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Schnelles Angebot: Keysight Technologies B1500A

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Keysight Technologies B1500A

Semiconductor Device Analyzer Mainframe

Modell

B1500A

Produktfamilie

LCR / Impedance Analyzers

Hersteller

Keysight Technologies

Konfigurierte Modelle enthalten die folgenden Merkmale:

LCR / Impedance AnalyzersLCR Meters1MHz <= 10MHz

Konfigurationen

Wichtigste Daten

Produktübersicht

Ressourcen

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Sie können sich auch an uns wenden, und unsere Experten können Sie mit der richtigen Anwendungs- und Beschaffungslösung für dieses Produkt beraten.

Merkmal	Wert
High Frequency (range)	1MHz <= 10MHz

Produktübersicht

The Keysight B1500A semiconductor parameter analyzer is an all-in-one device characterization analyzer supporting IV, CV, pulse / dynamic I-V, and more. The mainframe and plug-in modules enable the characterization of most electronic devices, as well as materials, semiconductors, and active/passive components. The B1500A semiconductor parameter analyzer modular architecture gives you the flexibility to upgrade when needed.

Switch between CV and IV measurements without re-cabling.
Capture ultra-fast transient phenomena not possible with other conventional test instruments.
Detect multi-frequency AC capacitance measurements from a range of 1 kHz to 5 MHz.

Ready to use application libraries

Device type	Application tests
CMOS transistor	Id-Vg, Id-Vd, Vth, breakdown, capacitance, and QSCV
Bipolar transistor	Ic-Vc, diode, Gummel plot, breakdown, capacitance, and more
Discrete device	Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc, diode, and more
Memory	Vth, capacitance, endurance test
Power device	Pulsed Id-Vg, pulsed Id-Vd, breakdown
Nano device	Resistance, Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc
Reliability test	NBTI/PBTI, charge pumping, electromigration, hot carrier injection, J-Ramp, TDDB, and more

Powerful capabilities of EasyEXPERT group+

Measurement capabilities	Staircase sweep, multi-channel sweep, pulse sweep, IV sampling, high-speed IV sampling, CV, C-t, C-f, etc.
Switching matrix control	B2200, B2201 and E5250 (E5252 card) are supported.
Analysis and data display capabilities	List-display, X-Y graph (with marker, cursor, and line), automatic analysis function, user function, and more
Data management	User workspace management, save/recall measurement data and setting with auto-record feature

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